
在半導(dǎo)體制造工藝中,精準(zhǔn)的溫度控制是保證芯片性能和良率的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。
在半導(dǎo)體制造領(lǐng)域,隨著芯片工藝節(jié)點不斷縮小和集成度持續(xù)提高,生產(chǎn)過程中的熱管理已成為決定產(chǎn)品性能與良率的關(guān)鍵因素。晶圓在刻蝕、沉積等工藝中會產(chǎn)生大量熱量,若不能及時有效地控制溫度,將導(dǎo)致晶圓變形、工藝參數(shù)漂移乃至產(chǎn)品報廢。
日本堀場(HORIBA)推出的GR-300系列晶圓背面冷卻系統(tǒng),正是針對這一挑戰(zhàn)而生的精密溫控解決方案,通過高精度氣體壓力控制,為先進(jìn)半導(dǎo)體制造提供了可靠的熱管理保障。
晶圓背面冷卻系統(tǒng)的基本原理是利用冷卻氣體的熱傳導(dǎo)特性,將晶圓加工過程中產(chǎn)生的熱量迅速轉(zhuǎn)移。
在半導(dǎo)體加工設(shè)備中,晶圓通常由靜電卡盤固定,GR-300系列通過控制導(dǎo)入晶圓背面的氦氣(He)或氬氣(Ar)等導(dǎo)熱氣體的壓力,實現(xiàn)對晶圓溫度的精準(zhǔn)調(diào)控。
這些冷卻氣體填充了晶圓與靜電卡盤之間的微細(xì)空隙,由于氣體分子具有較高的熱導(dǎo)率,能夠?qū)⒕A產(chǎn)生的熱量快速傳導(dǎo)至冷卻基座,從而有效降低晶圓溫度。
GR-300系統(tǒng)的核心技術(shù)在于其對氣體壓力的穩(wěn)定控制和精確測量。它采用高精度數(shù)字壓力傳感器和高速響應(yīng)的壓電陶瓷閥,能夠?qū)崟r調(diào)節(jié)氣體壓力,適應(yīng)不同工藝條件下的冷卻需求。
GR-300系列晶圓背面冷卻系統(tǒng)具有多項突出特點,使其在半導(dǎo)體制造領(lǐng)域脫穎而出:
高精度壓力控制:GR-300采用經(jīng)過驗證的電容式壓力傳感器,能夠在低壓環(huán)境下實現(xiàn)精確的壓力控制,確保工藝穩(wěn)定性。其控制精度和穩(wěn)定性對于控制晶圓背面溫度至關(guān)重要。
集成質(zhì)量流量監(jiān)測:系統(tǒng)配備了質(zhì)量流量傳感器,不僅可以進(jìn)行精確的壓力控制,還能以與原料氣體供應(yīng)過程相同的精度實時監(jiān)控實際氣體流量。這種雙重控制機(jī)制為工藝工程師提供了更全面的過程監(jiān)控手段。
高速壓電閥技術(shù):GR-300系列采用高速、高分辨率的壓電陶瓷閥,能夠?qū)刂菩盘栕龀隹焖夙憫?yīng),及時調(diào)整氣體壓力,適應(yīng)快速變化的工藝條件。
緊湊型模塊化設(shè)計:該系統(tǒng)的尺寸和配件與標(biāo)準(zhǔn)質(zhì)量流量控制器兼容,可以方便地集成到現(xiàn)有的氣體輸送系統(tǒng)中,簡化了系統(tǒng)設(shè)計和安裝流程。
全金屬氣路結(jié)構(gòu):系統(tǒng)的氣體接觸部分采用全金屬結(jié)構(gòu),避免了高分子材料可能帶來的污染,提高了系統(tǒng)的耐用性和可靠性,特別適用于超清潔類型的高純度氣體供應(yīng)系統(tǒng)。
符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn):GR-300系列符合RoHS指令,滿足現(xiàn)代半導(dǎo)體制造設(shè)備對環(huán)境友好性的要求。
晶圓背面冷卻系統(tǒng)在半導(dǎo)體制造的多個關(guān)鍵工藝環(huán)節(jié)都發(fā)揮著重要作用:
在等離子體刻蝕工藝中,晶圓表面會受到高能離子的轟擊,產(chǎn)生大量熱量。如果不能有效控制晶圓溫度,會導(dǎo)致刻蝕速率不穩(wěn)定和關(guān)鍵尺寸偏差。GR-300系統(tǒng)通過精確控制晶圓背面冷卻氣體的壓力,可維持晶圓溫度的穩(wěn)定,確??涛g均勻性和重復(fù)性。
在化學(xué)氣相沉積(CVD) 過程中,反應(yīng)氣體在晶圓表面發(fā)生化學(xué)反應(yīng)形成薄膜,這一過程通常伴隨著大量熱量的釋放。GR-300系統(tǒng)能夠及時將反應(yīng)熱帶走,防止晶圓溫度過高導(dǎo)致薄膜質(zhì)量下降。
在離子注入工藝中,高能離子束轟擊晶圓也會產(chǎn)生熱量,精確的溫度控制有助于保證注入深度和濃度的均勻性。
此外,在光刻、物理氣相沉積(PVD) 等工藝中,晶圓背面冷卻系統(tǒng)同樣是維持工藝穩(wěn)定性和一致性的關(guān)鍵因素。
根據(jù)市場研究機(jī)構(gòu)QYResearch的報告,晶圓背面冷卻系統(tǒng)市場預(yù)計在2025年至2031年間將持續(xù)增長。在這一市場中,HORIBA與Evatec、SPTS Technologies、MKS Instruments等公司共同成為行業(yè)的主要參與者。
隨著半導(dǎo)體技術(shù)節(jié)點不斷進(jìn)步,對工藝精度的要求越來越高,晶圓熱管理的重要性也日益凸顯。
未來,晶圓背面冷卻系統(tǒng)將朝著更高精度、更快響應(yīng)速度和更強(qiáng)集成能力的方向發(fā)展:
更高精度:隨著芯片特征尺寸的縮小,對溫度控制的精度要求將進(jìn)一步提高,需要壓力控制系統(tǒng)具備更低的波動范圍和更高的分辨率。
更強(qiáng)系統(tǒng)集成:冷卻系統(tǒng)需要與半導(dǎo)體制造設(shè)備的主控系統(tǒng)實現(xiàn)更緊密的集成,實現(xiàn)工藝參數(shù)與溫控參數(shù)的實時聯(lián)動與優(yōu)化。
更廣應(yīng)用范圍:從傳統(tǒng)的硅基半導(dǎo)體到第三代半導(dǎo)體(如氮化鎵、碳化硅),晶圓背面冷卻技術(shù)需要適應(yīng)不同材料的熱特性,提供定制化的解決方案。
HORIBA堀場GR-300系列晶圓背面冷卻系統(tǒng)代表了半導(dǎo)體制造熱管理領(lǐng)域的高水平技術(shù),其高精度的壓力控制、穩(wěn)定的性能和緊湊的設(shè)計,使其成為先進(jìn)半導(dǎo)體制造的關(guān)鍵子系統(tǒng)。
隨著半導(dǎo)體技術(shù)向著更小節(jié)點、更高集成度的方向不斷發(fā)展,精確熱管理在芯片制造過程中的重要性將愈發(fā)凸顯,而類似GR-300這樣的高精度冷卻系統(tǒng),必將在提升芯片良率和性能方面發(fā)揮越來越重要的作用。