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日本OTSUKA玉崎科學(xué)供應(yīng)大冢FE-300光學(xué)膜厚量測儀$n日本OTSUKA玉崎科學(xué)供應(yīng)大冢光學(xué)膜厚量測儀$n這是一款小型、低成本的膜厚計，采用高精度光學(xué)干涉法測量膜厚，操作簡單。$n我們采用一體式外殼，將必要的設(shè)備存儲在主體內(nèi)，實現(xiàn)穩(wěn)定的數(shù)據(jù)采集。$n盡管價格低廉，但也可以通過獲得絕對反射率來分析光學(xué)常數(shù)。
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